上海荊和分析器械有限公司
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SNE−4500卓上型走査電子顕微鏡SEM
簡単な説明:卓上型走査電子顕微鏡SEMA:Z大増幅倍率10万倍B:画像被写界深度が高く、立体感が強く、解像度が高いC:ステージ5軸制御システム(傾斜機能)、XY(40MM),R(360),TILT(0-45),Z(0-35MM)D:4段可変絞り(30、50、100、200μm)を装備し、電子ビームの
製品の詳細


SNE-4500G卓上走査電子顕微鏡SEM

ホスト
A.技術パラメータ
1.分解能:5 nm(30 kV、SE Image)
2.拡大倍率:30 x ~ 100000 x(有効拡大倍率60000 x)
3.加速電圧:
5kV to 30kV (5Kv/10Kv/15kV/20kV/30Kv-5 step)
4.画像:
二次電子画像-(SEI)-Secondary Electron Image
5. Observation mode: Standard Mode
6.電子銃システム:
フィラメントタイプ:プリペア中タングステンフィラメント
バイアスシステム:自動バイアス方式
電子銃補正:手動方式
7.レンズ構成
i.集光レンズ:2段式磁気コイルレンズ
ii.対物レンズ:1段式磁気コイルレンズ
8.検出器タイプ
E-T Detector
9.ステージシステム:5軸操作
- X, Y-axis : 40mm / R-axis : 360°
- Z : 0~35mm / Tilt-axis : 0~45°
10. Image shift:X, Y Image Shift (100?)
11.サンプルzui大サイズ:
80mm in diameter, 35mm in height

SNE-4500G卓上走査電子顕微鏡SEM

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